云顶国际app登录入口地址

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    系统级测试分选机
    SUMMIT-3100系列分选机
    用于System Level Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。可支持6/12/16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。
    SUMMIT-3100系列分选机
    云顶国际app登录入口地址特点
    用于System Level Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。可支持6/12/16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。
    Pin1 Detection Vision、2D Reader和OCR Vision system可同时开启检测；
    01
    characteristic
    可选装集成bottom AOI vision system，简化了测试工序，可实现ball,Substrate,Capacitor的检测；
    02
    characteristic
    Cooling capacity 可以实现1200W@125℃（接触面积65×65mm）；
    03
    characteristic
    支持Multi Bin Module，可实现auto*2 fix*15。
    04
    characteristic
    技术参数
    Model SUMMIT3100 SUMMIT3100HC-R
    Test Site Quantity 6/12/16 (Base on Different Model) 6
    Temperature type Dual temp Tri-Temp
    Contact Force Max.120kgf /site Max.180kgf /site
    Rotator Function ±90°，180° ±90°，180°
    Test Board Dimension 6 site: Max 568 mm x 500 mm, 12 site: Max 290 mm x 500 mm, 16 site:Max 206 mm x 500 mm 6 site: Max 568 mm x 500 mm
    Package Type QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc. QFN,QFP,BGA,LGA,PLCC,PGA, CSP,TSOP etc.
    Tray Type JEDEC JEDEC
    Temperature Range +25℃ to +130℃ ±3℃ -55℃ to +155℃ ±3℃
    Num Of Sorting Auto Tray ×4 Auto Tray ×4
    Tester Interface RS232，Network RS232，Network
    Heating Rate (Option: +ATC) Ambient~125℃ < 5min Ambient~125℃ <15min
    Cooling Rate (Option: +ATC) 125~Ambient< 15min Ambient~-55℃ < 30min
    Heat Dissipation (Option: +ATC) 200W@25℃，400W@70℃，450W@125℃
    (Contact size: 40 mm x 40 mm)     		150W@-55℃，400W@25℃，400W@125℃
    (Contact size: 65 mm x 65 mm)
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